2021-08-05 -至今科技工程师

供职半导体行业大型科技公司，独立开发维护了SPC控制系统， 具有高度自定义性 ：支持多种分组方式（按批次、按子组大小）和控制限计算方法（历史数据、预定义常数、自定义系数），满足不同场景需求。 轻量级架构 ：采用前后端分离架构，部署简便，对硬件要求低。 智能化异常检测 ：内置多种SPC判异规则，自动识别异常数据点。 完整数据管理 ：支持数据上传、批次管理、历史数据查询等全流程数据管理功能。 实时可视化 ：使用Chart.js实现直观的控制图展示，便于快速识别趋势。 也负责开发微缺陷图像识别系统，自动抓取机台扫描的产品图像，对疑似缺陷进行识别，标记，分类。

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