为了确保恶意电路的触发信号的低-翻转概率，恶意电路的连接结构和正常电路的电路连接结构应该存在可区分性差异。在输出处获得低0-probability或低1-probability的电路连接结构应该更可能属于恶意电路。
技术框架:
1. 首先将芯片设计抽象成一张有向无环图
2. 基于图结构，将其切分为nGates序列
3. 对nGates序列进行embedding
4. 训练检测模型 & 离线评估，获得最佳模型
5. 基于4获得的模型，进行线上推理
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GramsDet: 一种基于结构特征分析的芯片验证方法
我要开发同款功能介绍
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