良品缺陷管理系统

1:defectMap 主要功能为缺陷图形展示及整体过滤功能图形根据后端返回的坐标集合。
2:sigleMap 指对某个 defect 图选中后的单独操作，通过一些工具对图形进行区域选中或者
distance 不同的计算方式，传到后端实现数据过滤再通过图表的形式展现在页面上 供客户分析
3:paramterMap 主要是对某个 defect Wafer 下的某个 lot 数据 进行单个或多个分析，一般都是一些散点图，
折线图等等
项目主要技术栈echarts，vue，antd，canvas等