基于Nvidia Orin Nano4G边缘端工业缺陷检测产品系统

NVIDIA Orin Nano 4GB 硬件平台实现高效的缺陷检测功能。通过一对一部署检测模型支持 Orin Nano 利用摄像头进行自主缺陷检测，适用于工业生产场景中的质量控制。

主要功能
1.Orin 连接与数据库设置支持配置 Orin Nano 的数据库连接，确保检测数据实时存储与管理。
2.摄像头与视频上传提供摄像头选择功能，支持上传测试视频以进行缺陷检测。
3.模型选择与管理允许用户选择预训练的缺陷检测模型，灵活适配不同检测需求。
4.实时画面监控实时显示 Orin Nano 摄像头捕获的检测画面，便于用户监控检测过程。
5.数据库内容查看提供直观的界面，方便用户查询和分析存储在数据库中的检测结果。
应用场景
•制造业：用于生产线上的零件、产品表面缺陷检测。
•自动化质检：结合 Orin Nano 的边缘计算能力，实现高效、低延迟的实时检测。
•工业物联网：通过数据库管理检测数据，支持后续分析与优化。
技术亮点
•高效部署：与 Orin Nano 4GB 硬件紧密集成，充分发挥其边缘计算能力。
•用户友好：PyQt5 打造的图形化界面，操作简单直观。
•灵活扩展：支持多种摄像头与模型，适配不同工业检测场景。
本客户端为工业缺陷检测提供了一体化的解决方案，结合边缘计算与本地化数据库管理，助力智能制造与质量提升。