针对半导体测试研发的产品，功能如下：实时收集到的测试数据，设置良率指标卡控，为工程师提供各类Bin分析；通过实时良率报警、卡控、FailBin分析、CPK、Sigma分析、UPH统计、设备状态统计报表，提升工程师分析能力，提高良率。用户能利用系统定义不同的卡控规则，通过实时数据计算对不同客户、产品、测试程序的Lot或Run进行实时的校验与卡控，在发现测试异常时及时停止设备或报警，极大程度地降低损失在系统提供的看板中，用户能实时查看测试的良率、Bin趋势、Site分布、测试项趋势等，即便身处办公室，也能对测试状态了如指掌，为后续生产提供具有决策意义的信息支持1000+机台同时接入，可实现秒级数据采集、处理支持与CIM系统对接，实现即时停机支持对接主流的测试机，包括93K、Chroma、T2000、T5、I-Flex、U-Flex、P2000等几十种机型