MVisionStudio
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个人介绍

从工作至今一直致力于机器视觉软件/算法开发,公司也是3C行业翘楚;1、主要编程语言C#/Winform、C++/MFC2、主要使用OpenCV、Halcon进行算法开发3、熟悉线扫/面阵相机:Dalsa、e2v、Basler、JAI、Hik、Dahua等4、熟悉光学控制器、IO卡、PLC项目多为手机3C屏幕缺陷检测、布匹卷料检测、PCB缺陷检测

工作经历

  • 2014-06-01 -2020-06-27上海帆声高级软件工程师

    1、使用C#/Winform、C++/MFC/Qt开发桌面应用程序 2、熟练使用OpenCV、Halcon开发缺陷检测与尺寸测量的相关算法 3、熟练使用工业相机,精通plc通讯

教育经历

  • 2010-09-01 - 2014-06-01华北水利水电大学计算机科学与技术本科

    本科专业为计算机科学与技术;学习了C++/C#语言、数据结构、数据库、网络基础、计算机原理、编译原理等基础课程

技能

C++
openCV
MFC
QT
UI
机器视觉
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作品
外观检测系统

CG外观缺陷检测系统 1、采用C#/Winform进行软件开发 2、至少支持2个线扫相机 3、支持产品管理 4、此项目可兼容卷料产品的缺陷检测,如:玻纤布

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2021-07-05 23:26
AOI视觉检测通用系统

AOI视觉检测通用系统 1、采用拖拉的方式快速搭建视觉检测流程,缩短项目周期 2、支持定位、几何、有无等常用缺陷检测算子 3、实时查看处理结果

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2023-03-03 22:44
背光缺陷检测系统

*背光缺陷检测系统 1、负责检测系统的需求分析与总体设计并输出相关文档 2、使用C#/Winform进行软件系统开发 3、检测算法基于halcon进行开发 4、熟悉常用的工业相机 5、熟悉三菱/松下等PLC通讯协议

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2021-07-05 23:15
更新于: 2020-06-27 浏览: 477