针对芯片行业的衬底和外延，料片检测。实现料片的自动化检测。采用多轴同步，多线程，传统图像处理技术以及深度学习技术对斑点确认、诊断、统计、记录。涉及到C# C++ OpenCV OCR YOLO 多线程 同步调用等技术。查看全文
声明：本文仅代表作者观点，不代表本站立场。如果侵犯到您的合法权益，请联系我们删除侵权资源！如果遇到资源链接失效，请您通过评论或工单的方式通知管理员。未经允许，不得转载，本站所有资源文章禁止商业使用运营!
下载安装【程序员客栈】APP
实时对接需求、及时收发消息、丰富的开放项目需求、随时随地查看项目状态
评论