动态参数测试系统产品系统

LET-2000D半导体测试系统是一款测量与分析功率半导体器件动态参数的专用仪器，为所有类型的功率半导体器件提供动态参数测量的解决方案。
LET-2000D 半导体测试系统采用12bit示波器，可正确反应波形细节和参数的准确计算，且具备高带宽的电压和电流探测特点，能弥补一般系统对SiC/GaN的测量要求，同时，可以满足上/下管测试要求，可避免频繁连接探头。该系统测量参数齐全，且支持多种器件类型。