项目应用于3C电子制造行业自动化产线,用于产品外观质量自动检测。设备集成工业相机、光源、运动控制及PLC,实现产品在线检测、自动判定、数据追溯及MES交互,可替代人工目检,提高检测效率及一致性,满足高速连续生产及质量追溯要求。
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项目应用于3C电子制造行业自动化产线,用于产品外观质量自动检测。设备集成工业相机、光源、运动控制及PLC,实现产品在线检测、自动判定、数据追溯及MES交互,可替代人工目检,提高检测效率及一致性,满足高速连续生产及质量追溯要求。
负责AOI视觉检测软件整体开发,主要功能包括:
* 工业相机采集控制及多相机同步拍照;
* HALCON视觉算法实现模板定位、尺寸测量及外观缺陷检测;
* 支持点缺陷、线缺陷、异物、脏污、胶路、Mura等检测;
* 多配方管理及参数在线切换;
* 检测结果实时显示、缺陷标注及图片存储;
* 历史记录查询、统计分析及报表导出;
* PLC、扫码枪、打印机、MES等设备通信;
* 自动运行、异常报警、日志记录及权限管理;
* 支持设备远程维护及软件二次开发。
采用C# WinForms开发工业视觉上位机,视觉算法基于HALCON实现,完成图像采集、ROI定位、模板匹配、Blob分析、尺寸测量及缺陷识别等核心流程。软件采用模块化架构,将视觉算法、设备通信、运动控制及业务流程解耦,提高系统可维护性。
设备通信方面,完成工业相机SDK、PLC(Modbus TCP)、TCP/IP、串口及MES接口集成,实现自动上下料、检测流程控制、结果上传及设备状态监控。针对现场应用,对算法参数、多线程处理、内存管理及异常恢复机制进行了优化,保证软件在连续运行及高速检测场景下的稳定性和实时性,并支持多型号产品快速切换及现场工艺调试。



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