面向半导体芯片制造、激光泵浦源器件生产、工业视觉检测、微米级缺陷自动筛查、产线无人化质检、质量大数据分析场景,替代人工目检,实现高精度、高速度、高稳定性检测。
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面向半导体芯片制造、激光泵浦源器件生产、工业视觉检测、微米级缺陷自动筛查、产线无人化质检、质量大数据分析场景,替代人工目检,实现高精度、高速度、高稳定性检测。
微米级缺陷自动检测(裂纹、空洞、划痕、变形)
高速成像、实时 AI 推理、自动分选
质检报表自动生成、数据上传 MES
模型自学习、数据闭环、漏检率极低
7×24 小时无人值守质检
激光共聚焦成像 + 红外热成像双模采集
缺陷检测 + 分割 + 分类三阶段 AI 模型
TensorRT 量化优化,推理延迟 32ms
对接产线 PLC、MES、自动分选
半监督标注,提升数据效率 60%+





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