模块化嵌入式测控与信号处理平台（FPGA + ARM + 上位机）产品系统

面向工业测控、仪器仪表与自动化测试场景，提供一套模块化、可复用的嵌入式测控与信号处理解决方案。FPGA 侧负责高速数据采集（多通道同步 ADC）与实时信号处理（激励生成/滤波/解算）；ARM 侧负责系统调度、通信协议与闭环控制逻辑；上位机（Windows/Linux）负责参数配置、数据可视化与批量测试；有限元仿真软件（结构/热/电磁）用于设计前端的仿真验证与参数优化。

模块化设计，各功能独立、可复用：
1. FPGA 采集与信号处理模块：多通道同步 ADC 采集、可编程激励信号生成（DDS）、实时滤波与解算；
2. ARM 嵌入式控制模块：外设驱动、通信协议栈（UART/SPI/I2C/CAN）、闭环控制逻辑；
3. 上位机监控模块：串口/USB/网口通信、实时波形显示、参数下发、数据落盘；
4. 有限元仿真验证：结构强度 / 热 / 电磁仿真，前置验证设计与参数合理性。

技术栈：Verilog RTL 模块化设计（采集/激励/通信控制器分层）、C 语言 ARM 固件（裸机/RTOS）、Python/Qt 上位机、ANSYS/COMSOL 等有限元仿真工具。实现亮点：FPGA 多通道同步采集的时序对齐、DDS 可编程激励、模块间解耦便于复用；难点：高速采集与多路信号的时序约束收敛、软硬件联调数据链路一致性。流程：RTL 语法检查 → 仿真验证 → 综合实现 → 时序收敛 → 上板实测 → 上位机联调，全链路可复现。